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激光粒度分析儀

激光粒度分析儀是一款具備zeta電位和納米粒度雙重測試能力的**動態光散射粒度儀產品。使用電泳光散射技術測定zeta電位，求出等電點，是認識顆粒表面電性的重要方法，在顆粒表面處理中也是重要的手段。與國內外其它同類型儀器相比，它具有顯著的優越性，并可以配合激光粒度分布儀聯合應用于各項試驗。

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產品介紹

　　產品簡介：

　　激光粒度分析儀是一款具備zeta電位和納米粒度雙重測試能力的**動態光散射粒度儀產品。

　　使用電泳光散射技術測定zeta電位，求出等電點，是認識顆粒表面電性的重要方法，在顆粒表面處理中也是重要的手段。與國內外其它同類型儀器相比，它具有顯著的優越性，并可以配合激光粒度分布儀聯合應用于各項試驗。

　　適用范圍：

　　激光粒度分析儀同時具有Zeta電位及納米粒徑的分析測試功能，適用于多種不同的納米乳液、懸浮液膠體等的粒度和表面電位測量，能廣泛應用于精細化工行業納米材料、表活、低聚物等的研發和生產質控，同時也是油墨，醫藥制劑等行業產品研發及質控檢測儀器。

　　技術參數：

　　產品特點和優勢：

測試原理	采用電泳光散射原理和光子相關光譜技術，根據顆粒在液體中的電泳運動速度測定顆粒Zeta電位的大小。顆粒電泳運動的群體速度，激光照射這些顆粒，導致的散射光多普勒頻移量不同。光子相關光譜法就根據頻移量分析顆粒Zeta電位的大小。
超高速數據采集	本儀器的核心部件通過HA1024數字相關器，能實時完成電泳散射光強的采集和自相關函數運算，從而有效地反映顆粒的電泳運動速度的信息，為Zeta電位測試結果的準確性奠定基礎。
高靈敏度信噪比	采用專業級高性能光電倍增管，對光子信號具有**的靈敏度和信噪比。
高精度恒溫控制	采用半導體溫控技術，溫控精度高達0.1℃,使樣品在整個測試過程中始終處于恒溫狀態，避免溫度變化而引起液體黏度及布朗運動變化導致的測試偏差，保證測試結果準確性及穩定性
穩定的光路系統	采用光學移頻裝置與光纖耦合技術搭建而成的光路系統，使探測系統不僅體積小，而且具有很強的抗干擾能力，從而保證了測試的穩定性。